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泛华测控与NI将联手在长春举办汽车电子测试技术专题研讨会即将召开

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浏览次【字号大中小】发布时间：2012-7-6 打印本页

北京中科泛华测控技术有限公司（www.pansino.com.cn）将于6月21日与美国国家仪器有限公司（NI中国）联手在长春花园酒店举办“汽车电子测试技术专题研讨会”。作为虚拟仪器技术的创始人和倡导者，NI公司和泛华测控在汽车电子测试领域拥有多年的经验和众多专业产品，并得到客户的认可！NI公司和泛华测控将在此次研讨会上与广大汽车电子工程师们一同分享功能强大的测控产品、成熟完整的解决方案及尖端核心的测试技术！

全天的会议将围绕“汽车电子测试产品和技术”展开，同时结合国内经典应用案例和专业汽车电子测试产品介绍，相信此次研讨会将是汽车电子测试领域不容错过的盛会！

研讨会将涵盖：
国内汽车电子发展现状和趋势分析
NI软硬件平台在汽车电子测试中的应用
使用LabVIEW和便携式的硬件构建涉及多种信号类型的车载数据采集应用
汽车电子测试技术应用及产品介绍（包括：汽车传感器、ECU、安全气囊、噪声源定位和模态分析、汽车仪表盘测试等。）
……
研讨会演示系统：
汽车仪表盘测试系统
噪声源定位分析系统
模态分析
振动与阶次分析系统演示
便携式数据采集系统

研讨会时间：2007年6月21日
研讨会地点：长春花园酒店二楼水晶宴会厅查看详细信息
注意：报名截止日期为6月18日，最终报名结果以会议确认函为准。

本文网址:http://www.17360.cn/News/ZiXunView-942.html

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