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新闻标题影响涡流涂镀层测厚仪测量精度的原因

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影响涡流涂镀层测厚仪测量精度的原因分析如下:

    (1)覆盖层厚度大于25?m时,其误差与覆盖层厚度近似成正比;

    (2)基体金属的电导率对测量有影响,它与基体金属材料成分及热处理方法有关;

    (3)任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,只有大于这个厚度,测量才不会受基体金属厚度的影响;

    (4)涡流测厚仪对式样测定存在边缘效应,即对靠近式样边缘或内转角处的测量是不可靠的.

    (5)试样的曲率对测量有影响,这种影响将随曲率半径的减小明显地增大;

    (6)基体金属和覆盖层的表面粗糙度影响测量的精度,粗糙度增大,影响增大
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新闻标题影响超声波测厚仪的指标因数

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正文内容提示

 1、超声波测厚仪所测工件表面粗糙度过大,造成探头与接触面耦合效果差,反射回波低,甚至无法接收到回波信号。对于表面锈蚀,耦合效果极差的在役设备、管道等可通过砂、磨、挫等方法对表面进行处理,降低粗糙度,同时也可以将氧化物及油漆层去掉,露出金属光泽,使探头与被检物通过耦合剂能达到很好的耦合效果。


    2、检测面与底面不平行,声波遇到底面产生散射,探头无法接受到底波信号。
 

    3、工件曲率半径太小,尤其是小径管测厚时,因常用探头表面为平面,与曲面接触为点接触或线接触,声强透射率低(耦合不好)。可选用小管径专用探头,能较精确的测量管道等曲面材料。
 

    4、探头接触面有一定磨损。常用测厚探头表面为丙烯树脂,长期使用会使其
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新闻标题涂层测厚仪使用注意要点

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一、由于电磁场在不同表面结构有不同的分布形式,从而导致测量误差。为避免因操作而引起的误差,在使用涂层测厚仪时,请遵循以下原则:
1、在同一点重复测量时,每次将探头离开10cm以上,间隔几秒钟后再测,避免被测材料因探头磁化后,影响下次测量结果;
2、使用时,平面调零测平面,凸面调零测凸面,凹面调零测凹面,避免因结构不同而产生测量误差;
3、尽量使用被测材料作为调零基体,避免因不同材料的导磁性不同,而出现测量误差;
4、尽量在被测材料的同一部位调零后,再测相同部位。例如,在工件边缘和中间部位应分别调零;
5、做调零用的表面,要尽量光滑;被测材料表面的粗糙度对测量数值影响很大,如果表面不光滑,应视情况取平均值;
6、测量时,探头要保持与被测料面垂直,否则会产生较大误差。
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新闻标题磁粉探伤仪主要技术指标

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磁粉探伤仪主要技术指标

1、周向磁化电流: AC 0-4000A 连续可调驶 带断电相位控制; 2、纵向磁化电流: DC 0-20000AT 连续可调 带断电相位控制; 3、退磁磁势: AC 20000-0AT 连续可调 自动衰减;   
4、退磁效果: ≤0.2mT;   
5、夹紧方式: 气动或电动夹紧;   
6、电极间距: 0-1000mm由夹具确定;   
7、夹紧行程: 0-50mm;   
8、夹头转速: 10rpm;   
9、紫外线强度: 距光源380m
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新闻标题超声波测厚仪测量优缺点

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超声波测厚仪测量优缺点   
  透过涂层测量优点:
  
  1,能测量多种金属厚度,具代表性的,在钢中能从1mm到50mm
  
  2,只需要一个回波
  
  3,在点蚀情况能更精确地测量剩余地最小厚度
  
  透过涂层测量缺点:
  
  1,涂层最薄为0.125mm
  
  2,涂层表面应当比较光滑
  
  3,需要使用2种特定探头中地一个4,最高表面温度大约为50℃或51.67℃
  
  回波-回波测量优点:
  
  1,可使用多种普通探头工作
  
  2,常能穿透粗糙表面涂层工作
  
  3,用适
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新闻标题镁盐晶须防火上的应用

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晶须是一种针状单晶体材料,晶须是以无机物(金属、氧化物、碳化物、氮化物、无机盐类、石墨等)和有机聚合物等中的可结晶物为原材料,通过人为控制,以单晶形式生长的形状类似于短纤维,而尺寸远小于短纤维的须状单晶体。其直径极小,是亚微米和纳米级尺寸长度为几微米至数百微米。在单晶体中有高度有序的原子排列结构,几乎没有多晶材料中存在的各种缺陷。由于其晶体结构十分完整,使其具有惊人的力学强度,作为塑料、涂料和陶瓷等材料的改性添加剂,显示出极优良的物理化学性质和优异的机械性能。 
  1 晶须材料特点
  1.1晶须的分类 
  从1948年美国贝尔电话公司的科学家首次发现晶须以来,迄今为止材料学家们研究开发出了数百种晶须,有金属、氧化物、碳化物、氮化物、硼化物以及无机盐等类晶须。 
  晶须材料可分为有机晶须和无机晶须两大类。其中有机晶须主要有纤维素晶须、聚(丙烯酸丁酯-苯乙烯)晶须、聚(4-羟基苯甲酸酯)(PHB)晶须等几种类型,在聚合物中应用较多。无机晶须主要包括非金属晶须和金属晶须两类,
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