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NI PXI平台及模块化仪器的发展和应用

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浏览 次【字号 】 发布时间:2012-7-13 打印本页
通过本场研讨会,您将:
  -了解在创建基于PXI的ATE测试系统时必需的技术要点
  - 学习通讯、消费电子和IC行业设计和测试的难点以及如何克服这些难点
  - 通过实际的案例学习模块化仪器的应用
  

  
  本场研讨会中涉及的产品包括:
  - 2输入/2输出,24位动态信号采集与生成设备
  - 200MHz信号发生器,200MHz高速数字化仪
  - 100MHz高速数字I/O
  - 数字万用表和开关模块
  - 射频测量和发生设备
  - 其他最新的模块化仪器产品
  
  关于PXI平台:
  PXI (PCI eXtensions for Instrumentation)— 一种专为工业数据采集与自动化应用度身定制的模块化仪器平台。它将CompactPCI的集成式触发功能与Windows操作系统结合在一起,当您使用开放式PXI平台时,由于得益其基于计算机的硬件和熟悉的Windows环境,您的测量与自动化应用将花费较少。
  
  关于模块化仪器
  National Instruments的模块化仪器,集成了紧凑型、高性能测量硬件和灵活的测量软件。模块化仪器硬件:运用包括ADC,DAC,FPGA以及PC总线在内的最新商业技术。模块化仪器软件:如NI LabVIEW,包括了基于内置软件的测量和多种复杂的分析功能。通过使用模块化仪器,测试与设计工程师们只需选择合适的硬件模块以及在工业标准的软件,就可以创建用户自定义的测试测量系统来符合各自不同的测量需求。
  
  时间和地点:
  2006/7/20 北京 14:00-17:00 北京天鸿科园大酒店3楼鸿运二厅(海淀区知春路25号)
  2006/7/25 天津 14:00-17:00 天津水晶宫饭店2楼天子阁(河西区友谊路28号)
  
  更多信息请访问www.ni.com/china,或与NI上海分公司联系:上海市曲阳路800号商务大厦6楼(200437),电话:(021)65557838,传真:(021)65556244,E-mail:china.info@ni.com。免费咨询电话:800 820 3622
  
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