梅特勒电子天平的技术术语

梅特勒电子天平的技术术语
梅特勒电子天平可读性
　　天平的可读性是指可在显示屏上读取的两个称量值的最小差别。当使用数字显示屏时，这是指最小的数
值增量，又称为“分度值”。
提示:“变量程(DeltaRange)”与“双量程(DualRange)”天平具有两种不同类型的可读性，具有较高的性价
比。
梅特勒电子天平准确度
　　测试结果是否可修正或近似参考值的程度的定义，依照定义或协议[DIN1)55350-13]。或者简言之：天
平的显示值接近样品实际质量的程度。
　　测试砝码的准确度等级
　　概括相同准确度等级的不同砝码。按照OIML2)R111分类的砝码等级建议确保遵从有关砝码分类的误差限值以及确保表面质量与此国际建议一致。作为检测、称量与测试设备的控制部分，质量管理标准要求使用可追溯的砝码按照适当的周期校准或调节天平。用于此目的砝码必须经过认证具有相应的准确度等级。
微量天平示值误差
　　称量仪器的输出变量变化值除以相关输入变量变化值([VIM]5.10)1)。对于天平而言，为称量值的变化
值ΔW除以载荷变量Δm144×66
　　示值误差是天平最为重要的技术参数之一。天平指定的示值误差通常被理解为在标称范围内所称量的全
局示值误差(斜率)。
　　示值误差的温度系数
　　示值误差取决于温度。依赖程度通过因环境的温度变化影响所产生的称量值可逆偏差确定。这由示值误
差的温度系数(TC)得出，与每摄氏度的显示质量(或样品质量)偏差百分比一致。例如：使用XP天平时，示值
误差的温度系数为0.0001%/?C。这意味着，当温度变化1?C时，示值误差变化0.0001%或百万分之一。温度系
数的梅特勒电子天平的技术术语计算方法如下：
325×92
　　在该等式中，ΔS为示值误差变化值，ΔT为温度变化值。示值误差变化值ΔS等于结果变化值ΔR除以加
载值m或者去皮重后的样品质量。利用这一信息，可通过重新排列上述等式计算在一定温度变化条件下称量
结果的偏差。对于显示值，我们可得出：
319×49
　　如果您在XP/XS分析天平上对100g的加载值(样品质量)进行称量，并且实验室的环境温度自上一次校准
之后变化5?C，则在最差的情况下可得出以下最大结果变化值ΔR(XP的温度系数为0.0001%/?C)：
618×50
　　如加载值仅为100mg，即减小1000倍，则最大偏差同样会相应减小，为0.5μg。
　　FACT
　　全自动校准技术(FACT)。
　　根据天平的类型与线性自动校正示值误差。任何时候当超出设定温度变化值时将触发天平校正。
　　在天平生产过程中，内部砝码通过“初始校准”与国际称量标准进行可追溯性关联。
　　在这一过程中，通过将一个经过认证的砝码放置在天平上并将数值存储在天平中确定内部砝码的质量。
　　proFACT
　　梅特勒电子天平的技术术语专业级全自动校准技术(proFACT)。专业自动校正示值误差。
　　提示：超越系列XP/XS系列半微量与分析天平具有两组内置砝码。这意味着在校准期间，天平不仅测试
示值误差，而且测试非线性。
　　线性(非线性)
　　线性表示天平在遵循加载量m与显示值W(示值误差)之间线性关系方面的能力。在这里，假定理想曲线为
一条位于零与最大载荷之间的直线(请见：示值误差)。
　　相反，非线性定义称量值与理想曲线出现正负偏差所在频带的宽度。
　　例如：对于梅特勒-托利多超越系列XP分析天平XP205DR而言，在200g的整个称量范围内，与理想曲线线
性进程的最大偏差为±0.15mg。
　梅特勒电子天平重复性
　　重复性是指在相同的称量条件下，天平在对一个载荷以及相同载荷进行反复称量时提供相同结果能力的
基准 ([OIML1)R 76 1]T.4.3)。
　　必须由同一名操作人员使用相同的称量方法在相同秤盘上的相同位置、相同的安装位置、恒定的环境条
件下不中断的进行一系列称量。
　　一系列称量的标准偏差是表达重复性的称量方式。尤其是在使用高分辨率天平时，重复性好坏不仅仅取
决于天平性能。重复性还受环境条件(通风、温度变化、振动)与样品的影响，以及进行称量操作的人员技能
的影响。
　　现在让我们一起来确定这一系列称量的平均值与重复性再次详述梅特勒电子天平的技术术语
　　梅特勒电子天平平均值：
xi =这一系列称量的i-th结果
　　N: 称量次数，通常为10平均值
270×76
　　这一标准偏差用作重复性基准t。因此，这一系列测量的重复性为s =0.0095mg。
　　称量结果的不确定度约为重复性u ≈ 2s...3s的两至三倍，即：实际结果x位于区间x - u < x < x +u
以内。在我们的称量中，u ≈ 2 s ≈ 2 x 0.01mg =0.02mg，这样我们可以通过x ± u = 27.51467g ±
0.02mg得出称量结果。因此，使用上述系列称量中所使用的天平所预测出的此载荷的最小称量值为
27.51465g，最大值为27.51469g，这与该系列的称量结果完全一致。
　　梅特勒电子天平可追溯性
　　通过具有指定称量不确定度的一系列不间断比较链称量所得出的称量结果([VIM]1)6.10)，可追溯至国
际或国家适用标准。用于质量称量的普通砝码可追溯至上级标准。
　　梅特勒电子天平调节水平
　　在天平的参考位置设置天平(常规方法：水平面)，即：平行于天平的垂直方向设置其运行方向。作为常
规，这与设置天平外壳的水平方法相同。结果会由于倾斜角的余弦产生失真。纠正措施：所有天平提供通过
使用可调节支脚进行水平调节的选项。
　　微量天平的技术术语提示：超越系列XP天平具有：水平控制系统(LevelControl)。当天平未处于水平状态时，LevelControl
将自动发出报警并且进行记录，这将有利于提高称量的可靠性以及消除视觉控制(如：使用称量器具时)所存
在固有风险。
微量天平偏载
　　1. 通过偏离中心(偏心)的加载所得到的称量值的偏差。将加载物加载并从秤盘中心卸载时，偏载的增
加与加载的质量有关。
　　如果将相同的加载量放置在秤盘的不同部位时显示值依然保持一致，则表明此天平偏载误差。鉴于此，
使用高精度的天平时，务必确保样品始终准确位于中间位置。
　　梅特勒电子天平重现性
　　即使在不同条件(指定)下依照下列内容进行单独称量时，相同称量变量的称量值之间的近似程度：
　　? 称量过程
　　? 观察员
　　? 称量仪器
　　? 称量位置
　　? 使用条件
　　? 时间
　　梅特勒电子天平准确度
　　作为对称量结果系统偏差进行评定的定性术语。一系列称量值的预测值与所称量物体的实际值之间一致
性的接近程度([ISO1) 5725]3.7)。
　　梅特勒电子天平注释
　　只有当存在多个称量值和一个获得认可的正确参考值时方可对准确度进行评估。
　　梅特勒电子天平精确度
　　作为对称量结果平均偏差进行评定的定性术语。
　　在规定的条件下所获得独立称量值之间一致性的接近程度([ISO1) 5725] 3.12)。
　　精确度仅取决于随机误差的分布，与称量变量的实际值(准确度)无关。
　　梅特勒电子天平示例
　　称量仪器提供的称量值的能力很少会有偏差。
　　梅特勒电子天平注释
　　只有当存在多个称量值时方可评估精确度。
　　梅特勒电子天平测量不确定度
　　一个与称量结果相关，并且对可合理归因为称量变量的称量值分散度进行定性的参数([VIM]1) 3.9)。
　　此参数，即：称量不确定度通常由标准不确定度u或者扩展称量不确定度U(置信区间)表示。GUM2)包含
有关确定称量不确定度的方法说明。根据GUM说明，当二次误差相互不影响时，称量不确定度通过计算二次
误差的总和获得。
　　梅特勒电子天平注释
　　计算称量不确定度的方法有多种。对于制药业而言，通常依照《美国药典》确定。否则，称量不确定度
通常依照ISO3)17025确定。后者符合GUM方法。
　　提示：在大多数国家/地区当中，梅特勒-托利多服务中心按照客户的需求上门进行称量不确定度校准服
务。
　　梅特勒电子天平最小称量值
　　如果低于此值，称量结果的相对偏差将会过大。
　　提示：梅特勒-托利多超越系列XP天平提供最先进的称量技术，成功应用于微量样品的称量。
　　校准
　　在指定称量条件下确定称量值与真实值之间的偏差。
　　提示：梅特勒-托利多超越系列XP和XS天平将各个误差记录并显示在显示屏上，或将其发送至外部软件
程序或打印机。
　　梅特勒电子天平校正
　　在指定称量条件下确定称量值与真实值之间的偏差，并进行修正。

XSE204梅特勒托利多电子天平技术参数：