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涂层测厚仪的使用注意

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发布人:奔普仪器   浏览   次【字号 】 发布时间:2012年6月12日 打印本页
涂层测厚仪的使用注意
    1 基体金属特性
    对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
    对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
    2 基体金属厚度
    检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准。
    3 边缘效应
    不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
    4 曲率
    不应在试件的弯曲表面上测量。
    5 读数次数
    通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
    6 表面清洁度
    测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质.
    7,保存
    应该放在通风干燥的地方保存,不要放在潮湿的地方保存,长时间不使用,请取出电池.
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