使用涂层测厚仪的时应当遵守以下几点规定　
　　1、基体金属特性
　　对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。　　
　　对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。　　
　　2、基体金属厚度
　　检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。　　
　　3、边缘效应
　　不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。　　
　　4、曲率
　　不应在试件的弯曲表面上测量。　　
　　5、表面清洁度
　　测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质　　
　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。　　
　　6、读数次数
　　通常由于涂层测厚仪的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。

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上一条：影响涂层测厚仪测量值精度的各种因素下一条：影响涡流涂镀层测厚仪测量精度的原因

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